非接觸式薄層電阻測(cè)試儀

昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層方塊電阻測(cè)量的非接觸式方阻測(cè)量?jī)xEddyCus TF Series，這款非接觸式方塊電阻測(cè)量?jī)x可以非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量，對(duì)導(dǎo)電薄膜和金屬方塊電阻精確測(cè)量，表征已被隱藏和封裝的導(dǎo)電層，并把測(cè)量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出。

非接觸式方塊電阻測(cè)試儀主要測(cè)試對(duì)象：

• 鍍膜建筑玻璃，如LowE

• 顯示器，觸摸屏和平板顯示器

• OLED和LED

• 智能玻璃

• 石墨烯層

• 光伏晶圓和電池

• 半導(dǎo)體晶片

• 金屬化層和晶圓金屬化

• 電池電極
  

• 導(dǎo)電涂布紙和導(dǎo)電紡織品

非接觸式單點(diǎn)方阻測(cè)試儀EddyCus TF Lab 2020SR

EddyCus TF Lab 2020SR是非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測(cè)量系統(tǒng)。該裝置包含一個(gè)渦流傳感器組，感應(yīng)弱電流到導(dǎo)電薄膜和材料。試樣中的感應(yīng)電流產(chǎn)生與測(cè)量對(duì)象的片電阻相關(guān)的電磁場(chǎng)。電渦流技術(shù)不依賴于表面特征或形貌。此外，它不需要如已知的2或4點(diǎn)探針測(cè)試(2PP, 4PP)或霍爾效應(yīng)或范德波測(cè)量一樣進(jìn)行任何形式的充分的樣品接觸或備樣。它既不需要設(shè)置測(cè)試結(jié)構(gòu)，也不受表面粗糙度或非導(dǎo)電封裝或鈍化層的影響。此外，測(cè)量不會(huì)對(duì)被測(cè)薄膜產(chǎn)生物理影響。渦流儀器不存在機(jī)械磨損，使用壽命長(zhǎng)。它的獨(dú)立性與接觸質(zhì)量和它的高速允許實(shí)現(xiàn)高重復(fù)性和準(zhǔn)確性，有利于在研發(fā)和測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的各種薄膜的系統(tǒng)質(zhì)量保證。EddyCus工具可以由具有各種數(shù)據(jù)記錄和導(dǎo)出功能的SURAGUS軟件驅(qū)動(dòng)，也可以由SURAGUS軟件開發(fā)套件驅(qū)動(dòng)的客戶軟件驅(qū)動(dòng)。

軟件和設(shè)備控制：

• 非常用戶友好的軟件

• 直觀的觸摸顯示導(dǎo)航

• 實(shí)時(shí)測(cè)量板材電阻和層厚

• 軟件輔助手動(dòng)映射選項(xiàng)

• 各種數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出選項(xiàng)
  

非接觸式方塊電阻測(cè)試儀產(chǎn)品規(guī)格表

非接觸式方阻成像儀EddyCus TF Map 2530SR

EddyCus TF Map 2530SR是一種非接觸式薄層電阻映射系統(tǒng)。該設(shè)備配備了一個(gè)運(yùn)動(dòng)的渦流傳感器，每次掃描可測(cè)量高達(dá)90000 (300 x 300)測(cè)量點(diǎn)的方塊電阻。由于這種技術(shù)不需要與標(biāo)本進(jìn)行物理接觸，該設(shè)備可以在飛行運(yùn)動(dòng)中進(jìn)行測(cè)量。此外，它具有很高的準(zhǔn)確性，因?yàn)樗仟?dú)立于任何接觸質(zhì)量。樣品中測(cè)量點(diǎn)的高密度確保了沒有遺漏任何效果或缺陷。此外，綜合分析功能支持生產(chǎn)和研發(fā)實(shí)驗(yàn)室中各種薄膜的系統(tǒng)質(zhì)量保證。

便攜式方塊電阻測(cè)試儀

EddyCus TF便攜式1010SR專用于工業(yè)環(huán)境中的接觸片電阻測(cè)量。它使各種行業(yè)的手工質(zhì)量保證成為可能。

非接觸式薄層電阻測(cè)試儀

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